測試能力：

1、支持HBM及MM的Package Level測試；

2、放電電壓：HBM：8KV   MM：4KV；

3、可自制夾具，支持多種封裝測試

測試能力

1、200V 1A IV 特性測試，適用于二極管 Diode，電阻Resistor，三極管 BJT， MOSFET 等測試

2、10KHz to 10MHz CV 測試

測試能力

1、3KV 20A（pulse）IV 特性測試，適用于低功率以及高功率二極管 Diode， 三極管 BJT，電阻 Resisrot

2、金屬氧化物半導體場效應晶體管 MOSFET，SiC & GaN MOSFET，Diode 測試

3、CV 測試：10KHz—5MHz

測試能力

1、100KHz—18GHz 雙端口 S 參數測試，Z 參數以及 Y 參數測試

2、時域分析，特性阻抗以及差分阻抗測試

3、無線充電效能測試，包括有源低功率放大器，濾波器， 天線，衰減器，射頻開關等測試

測試能力

1、8 寸及以下晶圓級 67GHz 高頻測試

2、低漏電器件材料表征測試，光電器件表征

3、全自動測試：IV 測試，雙端口RF 器件測試

測試能力

1、6 寸及以下晶圓級 67GHz 高頻，低漏電器件材料測試

2、光電器件表征

測試能力

1、12寸及以下晶圓級低漏電器件材料表征測試，光電器件表征

2、-40至200℃高低溫IV測試

測試能力

1、0.1fA靈敏度，30fA精度，直流1A，脈沖3A，脈寬50us，電壓200V

2、適用于IV測試

測試能力

1、低溫真空探針臺可以對器件進行非破壞性的測試，器件最大尺寸可達到51mm(2inch)

2、可以對材料或器件的電學特性測量、光電特性測量、參數測量、high Z測量、DC測量等提供一個測試平臺

測試能力

1、可以對器件進行非破壞性測試，器件的尺寸可達到25mm(1inch)

2、可以對材料或器件電學特性測量、光電特性測量、參數測量和磁特性測試測量提供測試平臺