T5000 高性能TLP & VF-TLP

產品概要：

此設備用于半導體元器件靜電保護電路抗靜電能力的測試，通過該測試可以清楚的了解到元器件的抗靜電能力的特性參數，器件開發人員通過這些參數可以了解到元器件ESD設計窗口，從而對元器件保護電路作進一步改進；該設備也可通過給GATE端加DC電源，測試功率器件的SOA特性曲線。

基本信息：

技術優勢：

1、此設備配備了最先進的測試模式
2、對于器件管腳的入射波和器件管腳發出的反射波，都可在示波器上確認到
3、此數據會自動保存，并在專用的顯示軟件上表示
4、專用顯示軟件可對入射波/反射波的合計值，snapback特性以及漏電流測試的電流值進行圖形描繪
5、被保存的示波器上的數據可以進行高自由度的演算處理，比如，對于不同工藝的晶體管的ON電壓及可以加在保護電路上的最大電流值等，可以通過曲線的重疊描繪來確認其差異，并且可以與半自動探針臺連接，實現TLP測試的自動化
6、可以在Wafer level上進行印加管腳間或芯片間的自動移位，所以能夠很大地提升測試效率

應用方向：

1、具備印加脈沖寬度為100ns/200ns的normal TLP測試與寬度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)測試模式
2、有助于驗證HBM/CDM模式的測試

T5000 高性能TLP & VF-TLP

數據整合分析：

T5000 高性能TLP & VF-TLP

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