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W5000M 晶圓級ESD測試儀
產品概要:
低成本高性能晶圓ESD測試儀,從LED到系統LSI的大口徑Wafer,可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后,可根據漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關聯性的TLP測試設備進行組合測試 對ESD測試中發生問題的器件,能有效取得保護電路中的工作參數,是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。(滿足JEITA/ESDA/JEDEC規格)
基本信息:
技術優勢:
1.HBM波形在晶圓級實時捕獲
2.符合J EDEC、ESDA和JEITA標準
3.提高效率,使用一個測試儀執行兩個測試
4.Zap裝置可以安裝在探測站上
5.封裝級性能可以從晶圓級測試結果推斷出來
6.可選HMM zap測試(IEC 61000-4-2)